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0.7微米高精度测试探针定位器探针座

产品/服务:
有效期至: 长期有效
最后更新: 2017-10-26 09:47
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“0.7微米高精度测试探针定位器探针座”参数说明

是否有现货: 元器件种类: 半导体器件测试仪
型号: CB-100 规格: 0.7um精度探针座
商标: CINDBEST 包装: 纸箱包装
行程: 12mm 精度: 0.7um
维度: XYZ三个方向 重量: 700g
产量: 20000

“0.7微米高精度测试探针定位器探针座”详细介绍

CB-1000.7um探针座规格如下:*X-Y-Z移动行程:12x12x12mm*移动精度:0.7微米*移动方式:线性移动/无后座力移动*丝杠精度:100Thread/Inch*夹具可以30度范围倾仰*带射频测试线固定装置*射频测试能力:直流到40GHz~120GHz*可以配合使用校准片和校准软件*固定方式:磁性吸附(真空吸附可选)*尺寸:90长x130宽x90mm高*重量:650克探针台配件长工作距离体式显微镜、金相显微镜、三丰、motic显微镜、微光显微镜、样品加热变温台、防震桌、屏蔽箱、三轴调节探针座、RF四维探针座、高频探针夹具、管状同轴夹具、管状三轴夹具、弹簧同轴夹具、弹簧三轴夹具等各类探针台配件以及代理美国GGB系列探针。

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